河北省保定天威保变电气股份有限公司检验处计量室　韩贵胜　李春峰

　　高压标准介损的用途，主要用来对高压介损电桥的准确度进行考察并提出可行性的修正方法。根据多年的使用经验和研究分析，结合本厂实际情况对影响高压标准介损准确度的因素与修正方法介绍如下。    

　　一、影响高压标准介损准确度的主要因素

　　1.高压标准电容本身的准确度；
　　2.精密电阻的影响；
　　3.跨接电缆电容的存在对其准确度的影响；
　　4.测试频率的影响；
　　5.测试接线电阻对其准确度的影响。    

　　二、修正方法

　　1.由于高压标准电容采用了高介电常数，较高稳定性的纯净SF6气体作为介质。一旦制成，其容量基本是固定的，而且其介损值几乎接近于零，非常稳定。这些器件的固有参数无法改变。因此，此项对于提高高压介损的准确度是无济于事的。

　　2.在电阻元件的选取上，应该考虑经严格老化试验筛选且准确度高、性能稳定的无感精密电阻。由于高压标准介损箱的结构就是一个阻容串联，加上抗干扰的屏蔽结构，因此，电阻元件的基本要求必须得到满足。其准确度对高压标准介损的准确度的影响占有一定的主导地位，不容忽视。

　　3.由于设计结构上的要求和考虑，高压标准介损箱在阻容介损的输出端与被校试品之间存在着同轴75欧姆阻抗的跨接电缆。但是跨接电缆存在电缆电容，而且与其长度有着直接的正比例关系。如果在设计时仅考虑高压标准电容，而忽略电缆电容的存在，将对该高压标准介损箱的准确度有较大影响。该电缆电容的存在对于整个RC电路而言，有着一定的移相作用，影响和改变了损耗角的大小，进而影响到高压标准介损值(损耗角的正切值)的输出准确度。因此，该跨接电缆的长度应尽量缩短。

　　4.由于高压标准介损输出的标准值是在一定的频率(通常是50Hz)条件下进行设计计算的。如果测量或校正时，频率偏移50Hz较多就必须加以修正。具体修正方法为:
　　tanδX=(f/f₀)×tanδ_桥
　　式中f₀=50Hz，f为测量时的频率值，tanδX为频率修正后的介损值，tanδ_桥被试品的实际测量值。

　　除以上因素外，还有连接导线及桥体引起的介损。tanδX值在测量时实际上除了高压介损电桥的测量值、其内部标准电容器介质损耗角的正切值(tanδN)外，还包括-CXω(R1+R2)一项。
　　即:tanδX=tan_δ桥+tanδN-CXω·(R1+R2)，但是该项中CX为被测电容值，R1与R2是被试品高压端和低压端的引线电阻。一般情况下，在测量小电容时R1、R2可以忽略。