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投影式测长机光学系统常见故障及其维修方法

发布时间:2011-03-28 作者:姬文红 祝振喜 来源:本站原创 浏览:2346

河南省安阳钢铁公司计控部 姬文红  祝振喜

  一、刻线影像模糊不清

  1.毫米影像清晰,而分米“”双刻线影像模糊不清
  产生原因:(1)平行光管内物镜产生内应力,聚光镜或分米部分光路系统的光学元件上有油污或霉雾;(2)头座或尾座中的平行光管物镜发生离焦。

  2.分米“”双刻线和0.1mm刻尺像同时模糊不清
  产生原因:(1)主要是由于0.1mm刻尺或投影放大系统的光学元件上有油污或霉雾;(2)50×投影放大物镜物距变动或反光镜走动。

  3.微米标尺像模糊不清,但微米指标虚线“┆”却清晰
  产生原因:(1)微米分划尺不在光管的1×物镜焦平面上;(2)微米分划尺前面各光学元件松动或有油污、发霉等。

  4.微米标尺像与微米指标虚线“┆”同时模糊不清
  产生原因:(1)微米光路系统投影物镜与微米分划尺相对走动;(2)微米投影放大系统中反光镜松动或有油污。

  针对上述故障,可根据不同的产生原因作相应的调修:
  (1)先用120#纯净航空汽油清洗,然后用乙醚酒精混合液清洗。

  (2)①头座或尾座物镜离焦。松开物镜紧固圈,旋进头架物镜,头架物镜焦距变短;若旋出头架物镜,焦距则变长。尾座的平行光管物镜应配合作反方向操作以改变焦距,反复几次即可使影像清晰。
  ②微米分划尺离焦的调节。打开投影箱右侧盖板,将微米分划尺投影物镜座整组做上下位置移动,调节到微米尺和指标虚线同时清晰。若上述方法无效则平行移动光管组,但注意切不可做旋转运动,否则会发生微米像斜向位移。

  (3)微米光路系统投影物镜与微米分划尺相对走动。
  调节方法:保持微米分划尺不动,只改变投影物镜工作距离的位置。

  (4)对于元件偏移或部件松动的故障,对螺钉进行紧固即可。    

  二、刻线位置偏移故障有三种现象

  1.分米“”双刻线偏高或偏低
  产生原因:(1)若所有的分米“”双刻线均有偏高或偏低现象,则是由测量头座中平行光管的直角棱镜位置与尾座平行光管的直角棱镜位置绕光轴走动引起;(2)若个别分米“”双刻线有偏高或偏低现象,则由该部分分米分划板座走动引起。
  调修方法:(1)拆下尾座平行光管的保护罩,松开紧固螺钉,使直角棱镜光轴作微量移动,直至影像处于正确位置后再紧固螺钉;(2)个别分米“”双刻线座走动,则应对个别分米“”双刻线座重新调整,但该分划板位置误差需重新检定,调整至相应允许误差要求之内。

  2.分米“”双刻线像在投影视场中倾斜
  产生原因:(1)由分米分划板座安装位置发生倾斜或分米分划板在座内发生倾斜而产生;(2)头座或尾座中平行光管的直角棱镜发生了绕光轴的转动,即头座和尾座中的两直角棱镜的主截面不平行引起。
  调修方法:(1)松开紧固螺钉,调整分米分划板座或分米尺。调整后要重新检定分米尺的位置误差;(2)移动尾座观察分米双刻线所处的位置在左侧或右测。若左侧像低、右侧像高则是由于尾座棱镜低、头座棱镜高而引起的。可分别打开头尾棱镜护罩壳,松开四只紧固螺钉,并将头座直角棱镜逆时针绕光轴旋转,直至看到分米像向下离开视场,然后将尾座直角棱镜也逆时针绕光轴旋转直至看到分米像是向上进入视场。这样反复数次,根据分米像的走向决定棱镜上下转动方向,直到分米像在视场中完全平行等高。

  3.微米标尺像与指标虚线“┆”在视场中出现斜向运动
  产生原因:由于微米分划尺的位置方向与光管测量轴中反光镜组中的反光镜摆动方向不平行而造成。
  调修方法:(1)有微量差时,可打开投影箱右侧盖板对微米分划板作微量转动,此时不应调整整个物镜座;(2)当利用尾管微动手轮调整测轴在±100微米范围内移动时,微米像倾斜走动,此时则需对光管中的测轴反光镜组作调整。

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