日前，由西安光机所承担研制的“高精度CCD拼接及综合性能检测仪”研制项目通过了中国科学院综合计划局的验收。据悉，“高精度CCD拼接及综合性能检测仪”研制项目经中国科学院审核批准，作为院仪器研制项目于2002年1月正式启动的。经过项目组全体人员近两年的努力，按照计划进度圆满完成了项目研制任务。“高精度CCD拼接及综合性能检测仪”由智能化复合式三坐标测量机、CCD评估板、时钟驱动和信号处理箱三个部分组成，它主要用于CCD器件几何参数和光电参数的测量、CCD焦平面的精密拼接和检测，以及一般几何尺寸和形位误差的精密测量等工作。 验收会上，专家组听取了项目组的研制总结报告、经费决算报告、用户使用报告和测试组提供的测试结果报告，并现场观看和查验了仪器的各项使用功能及主要技术指标，专家组经过认真质询和讨论后认为：该研制项目圆满完成了合同任务书规定的各项技术指标和要求，仪器运行平稳，工作正常，实际使用效果良好，在科研生产中发挥了预期的重要作用，一致同意通过验收。 该研制项目的完成和投入使用，为西安光机所承担国家重大科研任务提供了强有力的设备支持，同时在研制工作中也培养造就了一支能够跟踪国内外先进计量技术和测试仪器的发展趋势、具有坚实理论基础和丰富实践经验的人才队伍。