由中国上海测试中心、上海市计量测试技术研究院、上海市分析测试协会共同举办的“2005年上海地区分析测试技术研讨会”定于2005年3月15日（星期二）在上海市计量 测试技术研究院二楼学术报告大厅举行。 中国科学院博士生导师、中国分析仪器学会副理事长、中国光学仪器学会副主任、中国国家质量技术监督局国家级计量认证评审员、《光学仪器》副主编、《生命科学仪器》副主编：李 昌 厚 教授主讲。同时还有中科院其他分析仪器专家到场与大家交流。 日 程 安 排 1. 国内、国外原子吸收分光光度计的应用和最新进展 2. 原吸主要技术指标的物理意义、重要性、测试方法 3. 如何评价（挑选）原子吸收分光光度计 4. 如何用好原子吸收分光光度计的几个关键问题 李昌厚教授 5. 普析通用公司产品介绍 6. 国内、国外紫外分光光度计的应用和最新进展 7. 紫外主要技术指标的物理意义、重要性、测试方法 8. 如何评价（挑选）紫外可见分光光度计 9. 如何用好紫外可见分光光度计的几个关键问题 10.其 他 分 析 仪 器 技 术 交 流 本次技术讲座不收任何费用 联系人：丁轶帅 韩春 陈蓓芬 单位：北京普析通用公司上海办事处 地址：上海市漕溪北路737弄1号楼2501室 邮编：200030 电话：021-64681026- 129/131, 13701975201 传真：64684506