2005年国际计量自动化测试技术研讨会 (2005-03-14)
发布时间:2007-12-04
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时 间:2005年6月28日-30日
地 点:上海新国际博览中心(中国上海浦东龙阳路2345号)
主办单位:中国计量测试学会(CSM)
现代计量科学技术产生了巨大变化,为了推动国内外计量科技与服务的健康快速发展,中国计量测试学会将定于2005年6月28日-30日在中国上海举办大型的国际计量自动化测试技术研讨会。会议同期,还将举办国际计量测试技术及设备展览会。
主要议题 :
长度、热学、力学、电磁学、无线电、时间频率、光学、电磁辐射、物理化学、标准物质等计量测试技术;
现代最新测量技术:电磁兼容测试、纳米测试技术、软件测量等;
流量计量与测试;
实验室计量分析方法、质量检验技术和化学计量;
工业自动化测试及控制技术。
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