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“构建下一代自动化测试系统巡回研讨会”走入西安、苏州

发布时间:2008-06-11 作者: 来源: 浏览:1116

  “构建下一代自动化测试系统巡回研讨会”是美国国家仪器举办的可自定义的模块化解决方案巡回研讨会,旨在了解自动化测试的最新发展趋势,解密模块化系统架构带来的巨大优势,涵盖从直流到射频的多种自动化测试案例。

  测试测量行业正逐渐朝着自动化和模块化的方向发展,作为测试工程师,是否也在寻求一套能够满足当今和未来发展需求的自动化测试系统呢。
  ?通过软件定义测量硬件的功能:保证系统的灵活性和自定义性
  ?全面基于工业标准:保证系统的可靠性和使用寿命
  ?模块化的总线架构:提升系统吞吐量和设备的互联性
  ?高性能的模块化仪器:满足从DC到6.6GHz的不同测量应用

  “构建下一代自动化测试系统巡回研讨会”的主要内容:
  ?构建下一代自动化测试系统必备技术
  ?自动化测试的发展趋势与挑战
  ?推荐的分层架构 - 以软件为核心的模块化系统架构
  ?测试测量总线的选择和集成
  ?从直流到射频的综合功能测试介绍 

  自动化测试系统涉及的产品和应用领域:
  ?声音和振动测试
  ?NI系统联盟商的解决方案
  ?数字万用表+开关的自动化测试
  ?源测量单元(SMU)
  ?高速数字信号采集和验证
  ?射频测量应用
  ?激励- 响应测试
  ?高速示波器卡
  ?音频和视频测试

  研讨会地点及时间
  ?2008年06月11日 14:00-17:00 西安凯悦(阿房宫)饭店
  ?2008年06月18日 14:00-17:00 苏州丽都大酒店

 

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