3月23日，国家质检总局在中国计量科学研究院（以下简称“中国计量院”）组织召开了国家科技支撑计划项目“高准确度化学计量溯源技术研究”课题四“同位素高准确度测量溯源技术研究”验收会。验收专家组成员听取了课题负责人汇报，审议了验收材料,经质询和讨论,一致同意该课题通过验收。
        高准确度同位素丰度测量溯源技术对保障同位素测量结果更好的满足应用研究需求至关重要，同时也是引领同位素技术应用发展的必要前提。课题首次研究建立了HR-ICP-MS准确测量高浓缩硅同位素的方法，解决了硅氢等严重质谱干扰影响，实现了浓缩硅-28摩尔质量的准确测量，为硅球法复现阿伏加德罗常数提供了一种新的有效测量技术；首次建立了基于全校正机制的钼、镁同位素MC-ICP-MS基准测量方法，建立了浓缩钼同位素样品纯化方法和全蒸发负离子热电离质谱测量技术，基于蒙特?卡罗法量化评定了迭代过程的不确定度；基于对轻、中、高质量段代表性元素同位素测量方法学研究，建立分段式校正模式，提高了同位素比值测量结果正确度；12项同位素测量与校准能力获得国际互认，并制定实施国家计量技术规范JJF1508-2015《同位素丰度测量基准方法》。