2018年4月，经中国计量测试学会常务理事会审议，批准成立集成电路测试专业委员会，挂靠在中国科学院计算技术研究所计算机体系结构国家重点实验室。经过四个多月的紧张筹备，成立大会于2018年8月14日，在哈尔滨太阳岛花园酒店隆重召开。

　　成立大会由计算机体系结构国家重点实验室常务副主任李晓维研究员主持，中国计量测试学会马爱文秘书长、计算机体系结构国家重点实验室集成电路团队负责人李华伟研究员、合肥工业大学梁华国教授、同济大学江建慧教授、清华大学向东教授，以及来自清华大学、北京大学、中国科学院、复旦大学、同济大学、上海交通大学、合肥工业大学等集成电路测试技术领域相关研究所、高校的领导专家和来自苏州中科集成电路设计中心、Advantest、美国国家仪器、摩尔精英、苏州华兴源创等集成电路测试技术领域相关企业的技术专家等70余人出席了此次会议。

　　会上，马爱文秘书长代表中国计量测试学会对专委会的成立表示祝贺，并对集成电路测试专委会提出了希望：响应“以科技创新和科普为两翼”，坚持“三个面向”??面向世界最先进最前沿的科技技术、面向国家的重大发展战略、面向企业需求，紧紧围绕国家发展大局，以集成电路测试技术研究为重点，加强学术交流、加强协作创新、加强科技成果转化和应用，不断提升我国集成电路测试技术的发展能力和水平。

　　随后，该专业委员会通过了主任委员、副主任委员和委员人选；讨论通过了《中国计量测试学会集成电路测试专业委员会管理办法》。李晓维研究员作为专委会主任委员发表讲话，指出专委会将主要从制定技术标准、促进产学研用融合和贯通、聚集优秀资源开门办会三方面加强专委会的工作，依据专委会的职责，积极开展不同类型、不同范围、不同层次的学术交流活动；通过交流平台的优势，聚集优秀科技资源，联合申报和承担国家、地方重大科技创新项目；开展产业重大、关键技术联合攻关，推动科技成果、知识产权的内部推广应用；加强科技人才建设，特别是青年人才建设，提高科技资源的使用效率，支持成员间的科技创新。

　　在之后的讨论环节，与会专家依次进行了自我介绍，并为今年专委会如何开展工作建言献策。该专委会的成立将对有效推动我国集成电路测试技术提升及产业化发展产生重要影响，具有里程碑式的意义。